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光譜分析儀的性質原理

來源:杰博科技 次數: 發布時間:2018/6/25 14:31:14
直讀光譜分析儀廣泛應用于冶金、鑄造、機械、金屬加工等領域的生產過程控制、中心實驗室成品檢測,可用于Fe 、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb、Sn、Ag等多種金屬及其合金樣品分析。直讀光譜分析儀現實中應用有兩種移動式直讀光譜儀和臺式直讀光譜儀。接下來介紹直讀光譜儀的性質原理。
光譜分析儀的性質原理
 
通常所說的光譜或光譜分析儀器,一般是指光學光譜分析儀器。從它的外形看可分為線光譜、帶光譜和連續光譜。線光譜是由氣體狀態下的原子或離子激發而產生的。 如果是原子產生的,稱為原子光譜。如果是離子產生的,便稱為離子光譜。而帶狀光譜來源于被激發的氣體分子。如果光譜分析中采用的碳電極在高溫下可與空氣中 的氮化合,生成氰(CN)分子,當氰分子在電弧中被激發后就產生帶光譜,稱為氰帶。當物質的液態或固態在高溫下激發就會產生連續光譜。如常見的白熾燈(鎢 絲燈),燒紅的鐵電極等。它們發射的都是連續光譜儀。這些光譜是不能用來分析的。
 
根據電磁輻射的本質,光譜可分為原子光譜儀器和分子光譜儀器。根據輻射能的傳遞情況光譜又可分為發射、吸收、發光(熒光光譜)和萊曼光譜等。發射光譜工作的光譜范圍波長大約為1600入一8500入。
 
光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收,由發射光譜被減弱的程度,進而求得樣品中待測元素的含量。它符合郎珀-比爾定律 A= -lg I/I o= -LgT = KCL 式中I為透射光強度,I0為發射光強度,T為透射比,L為光通過原子化器光程由于L是不變值所以A=KC。
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